Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

Das Fraunhofer IOF verfügt über langjährige Kompetenzen auf dem Gebiet der Charakterisierung von Oberflächen und Schichtsystemen. Dies beinhaltet die Analyse von Nano- und Mikrostrukturen sowie optischer und funktionaler Eigenschaften. Es werden kundenspezifische Untersuchungsprogramme zur effizienten Unterstützung der Entwicklung von funktionalen Oberflächen, dünnen Schichten und Materialien erarbeitet. Dazu steht ein umfassender Pool an Mess- und Auswertetools zur Verfügung.

Das Anwendungsspektrum umfasst insbesondere: