Zur Aufklärung der funktionsrelevanten Eigenschaften von Oberflächen und Beschichtungen werden verschiedene Messverfahren eingesetzt und kombiniert.

Dies umfasst insbesondere:

• Rasterkraftmikroskopie (AFM), Weißlichtinterferometrie (WLI), Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Nomarski-Mikroskopie, Fokusvariations-Verfahren
• Nanoindentation und Nanoscratchtests
• Bewertung von Oberflächen und Schichten
• Quantitative Analyse:

• Rauheitsparameter, Strukturparameter
• Power-Spectral-Density Funktion (PSD)
• Defektgrößen, etc.

• Entwicklungsbegleitende Charakterisierung
• Verbindung zwischen strukturellen und funktionalen Eigenschaften:

• Benetzung (z.B. Superhydrophobie)
• Optik (z.B. Streulicht)
• Abrasion, Degradation

• Verknüpfung von Charakterisierung und Design
• Entwicklung spezieller Datenanalyseverfahren