Zur Aufklärung der funktionsrelevanten Eigenschaften von Oberflächen und Beschichtungen werden verschiedene Messverfahren eingesetzt und kombiniert.
Dies umfasst insbesondere:
- Rasterkraftmikroskopie (AFM), Weißlichtinterferometrie (WLI), Laserscanning-Mikroskopie (LSM), Nomarski-Mikroskopie, Fokusvariations-Verfahren
- Nanoindentation und Nanoscratchtests
- Bewertung von Oberflächen und Schichten
- Quantitative Analyse:
- Rauheitsparameter, Strukturparameter
- Power-Spectral-Density Funktion (PSD)
- Defektgrößen, etc.
- Entwicklungsbegleitende Charakterisierung
- Verbindung zwischen strukturellen und funktionalen Eigenschaften:
- Benetzung (z. B. Superhydrophobie)
- Optik (z. B. Streulicht)
- Abrasion, Degradation
- Verknüpfung von Charakterisierung und Design
- Entwicklung spezieller Datenanalyseverfahren