Bei der Entwicklung optischer Systeme ist sowohl zur Charakterisierung von Einzelkomponenten als auch von fertigen Systemen eine entsprechende Messtechnik mit Schnittstellen zum optischen Design notwendig. Hierfür stehen uns unter anderem die folgenden Messmethoden zur Verfügung:
Charakterisierung von Lichtquellen und selbstleuchtenden Displays (OLEDs)
- Winkel- und Spektralabhängigkeit (300 – 1000 nm) der Emission in Fern- und Nahfeld
- Vermessung von LEDs gemäß CIE-127
- Ortsaufgelöste Leuchtdichtemessung
- Messung der Beleuchtungsstärke mittels Ulbrichtkugel
- Export aller Daten zu den Optikdesignprogrammen ASAP, ZEMAX und Fred
- Datenblatt: Charakterisierung von Lichtquellen
Charakterisierung von Linsen und Objektiven
- MTF axial und im Feld bis 100°
- Brennweite
- Verzeichnung
- Farblängs- und -querfehler
- Bildfeldwölbung
- Astigmatismus
- Datenblatt: Charakterisierung von Linsen und Objektiven
Schnittstelle Optisches Design / Messtechnische Verifikation
- Durchführung von Prinzipversuchen an neu entwickelten optischen Komponenten und Systemen
- Vergleich von experimentellen Ergebnissen mit optischen Simulationen
Streu- und Störlichtanalyse
- Streu- und Störlichtanalysen optischer Systeme (mittels ASAP, ZEMAX und FRED) mit Verbindung zur Streulichtmessung
- Simulation des Streuverhaltens