Charakterisierung optischer Bauelemente und Systeme

Bei der Entwicklung optischer Systeme ist sowohl zur Charakterisierung von Einzelkomponenten als auch von fertigen Systemen eine entsprechende Messtechnik mit Schnittstellen zum optischen Design notwendig. Hierfür stehen uns unter anderem die folgenden Messmethoden zur Verfügung:

 

Charakterisierung von Lichtquellen und selbstleuchtenden Displays (OLEDs)

  • Winkel- und Spektralabhängigkeit (300 – 1000 nm) der Emission in Fern- und Nahfeld
  • Vermessung von LEDs gemäß CIE-127
  • Ortsaufgelöste Leuchtdichtemessung
  • Messung der Beleuchtungsstärke mittels Ulbrichtkugel
  • Export aller Daten zu den Optikdesignprogrammen ASAP, ZEMAX und Fred

 

Charakterisierung von Linsen und Objektiven

  • Brennweite, Abbildungsmaßstab
  • MTF-Messplatz endlich-endlich, unendlich-endlich, endlich-unendlich
  • Through-Focus MTF-Messungen
  • MTF Symmetrie-Messungen
  • Transmissionsmessungen mittels Ulbrichtkugel

 

Schnittstelle Optisches Design / Messtechnische Verifikation

  • Durchführung von Prinzipversuchen an neu entwickelten optischen Komponenten und Systemen
  • Vergleich von experimentellen Ergebnissen mit optischen Simulationen

 

Streu- und Störlichtanalyse

  • Streu- und Störlichtanalysen optischer Systeme (mittels ASAP, ZEMAX und FRED) mit Verbindung zur Streulichtmessung
  • Simulation des Streuverhaltens