Messverfahren und Charakterisierung

Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF

 

Das Fraunhofer IOF entwickelt optische Messverfahren und -systeme nach  kundenspezifischer Anforderungen.

Schwerpunkte sind die Charakterisierung optischer und nichtoptischer Oberflächen, Schichten, Komponenten und Systeme im Mikro- und Subnanobereich sowie die 3D-Formerfassung.

2010 wurden erste Ergebnisse zur räumlichen Identifikation von Substanzen mittels THz-Tomographie erzielt.

  • 3D-Messverfahren

    3D-Vermessung komplexer Gussteile.

    Das Fraunhofer IOF konzipiert und realisiert optische 3D-Messsysteme für unterschiedliche Anwendungen auf der Basis von...

  • Optikcharakterisierung

    MTF-Messplatz.

    Für die Systementwicklung und Analyse ist die Messtechnik überaus wichtig. Daher charakterisiert das Fraunhofer IOF neue Komponenten...

  • Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

    1 - Superpolierte Quarzglasoberfläche. 2 - Strukturierte TCO-Schicht. 3 - Laserstrukturierte Stahloberfläche.

    Das Fraunhofer IOF verfügt über langjährige Kompetenzen auf dem Gebiet der Charakterisierung von Oberflächen und Schichtsystemen...

  • Terahertz-Messverfahren

    Untersuchung eines Paketes zur Sicherheitskontrolle durch THz-Absorption.

    Laufzeitmessungen von ultrakurzen THz-Pulsen in Kombination mit breitbandiger Spektroskopie ermöglichen zahlreiche Anwendungen in den Gebieten...

  • Metrologische Computertomographie

    Zerstörungsfreie, metrologische Computertomographie von innenliegenden Strukturen.

    Die Computertomographie ermöglicht die zerstörungsfreie Erfassung der Innen- und Außengeometrie eines Objektes. Mit Hilfe von virtuellen Schnitten...

Weiterführende Informationen