Messverfahren und Charakterisierung

Das Fraunhofer IOF entwickelt optische Messverfahren und -systeme nach kundenspezifischer Anforderungen.

Schwerpunkte sind die Charakterisierung optischer und nichtoptischer Oberflächen, Schichten, Komponenten und Systeme im Mikro- und Subnanobereich sowie die 3D-Formerfassung.

 

3D-Messverfahren

Das Fraunhofer IOF konzipiert und realisiert optische 3D-Messsysteme für unterschiedliche Anwendungen auf der Basis von...
 

Optikcharakterisierung

Für die Systementwicklung und Analyse ist die Messtechnik überaus wichtig. Daher charakterisiert das Fraunhofer IOF neue Komponenten...
 

Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

Das Fraunhofer IOF verfügt über langjährige Kompetenzen auf dem Gebiet der Charakterisierung von Oberflächen und Schichtsystemen...
 

Terahertz-Messverfahren

Laufzeitmessungen von ultrakurzen THz-Pulsen in Kombination mit breitbandiger Spektroskopie ermöglichen zahlreiche Anwendungen in den Gebieten...
 

Metrologische Computertomographie

Die Computertomographie ermöglicht die zerstörungsfreie Erfassung der Innen- und Außengeometrie eines Objektes. Mit Hilfe von virtuellen Schnitten...