Messeinsätze für die Spektralphotometrie

Motivation

Die spektralphotometrischen Messungen an Proben auf planparallelen und ebenen Substraten sind für die Charakterisierung von optischen Schichtsystemen wichtig.

Dabei stellt insbesondere die genaue Reflexionsmessung eine Herausforderung dar, weil häufig nur eine Reflexionsmessung bezüglich einer Referenzprobe möglich ist.

Ebenfalls ist ein identischer Messfleck für die Transmissions- und Reflexionsmessung auf der Probe erforderlich. Dieser Fall ist aber häufig nicht sicherstellbar.

 

Kompetenz

Die am Fraunhofer IOF entwickelten VN-Einsätze für die GPOB (General Purpose Optical Bench) der Spektralphotometer Lambda 850/900/950 von Perkin Elmer erlauben die Absolutmessung des Transmissions- und Reflexionsvermögens von Schichtsystemen auf ebenen, planparallelen Substraten (Dicke bis 5 mm, Größe zwischen 25 und 70 mm) für nahezu senkrechten Lichteinfall (Einfallswinkel ca. 6°) und einen Einfallswinkel von
45° (s- oder p-polarisiertes Licht), ohne dass zwischen der Transmissions- und der Reflexionsmessung die Probe in Ihrer Position verändert wird.

Bei nicht driftfreien Interferenzschichtproben ist die Kenntnis des thermischen bzw. Vakuumshifts für die Beurteilung des Einsatzpotenzials einer Schicht essenziell. Das Fraunhofer IOF hat daher einen Messaufbau entwickelt, der Shiftmessungen in Transmission bei senkrechtem Lichteinfall unter Nutzung des Prozessphotometers „OptiMon“ im Rezipienten der "Syrus pro" Beschichtungsanlage ermöglicht.

Durch wahlweises Aufheizen bzw. Evakuieren ist der thermische bzw. Vakuumshift separat oder in Kombination direkt bestimmbar.

 

Unser Angebot

  • Entwicklung von VN-Einsätzen z. B. für die GPOB von Perkin Elmer für Einfallswinkel von 6° und 45°
  • Messung des Transmissions- und Reflexionsvermögens unter einem Einfallswinkel von ca. 6° im Wellenlängenbereich 200 - 2500 nm an Kundenproben
  • Messung des Transmissions- und Reflexionsvermögens für s- oder p-polarisiertes Licht unter einem Einfallswinkel von ca. 45° im Wellenlängenbereich 220 - 2500 nm an Kundenproben
  • Bestimmung des thermischen oder Vakuumshifts an Kundenproben