Systeme zur Oberflächen- und Schichtcharakterisierung

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Das Fraunhofer IOF entwickelt kundenspezifische Messverfahren zur Oberflächen- und Schichtcharakterisierung für den Einsatz vom Labor bis hin zur Produktionslinie. Streulichtbasierte Verfahren vereinen Vorteile wie Sensitivität und Genauigkeit mit praxisrelevanten Anforderungen wie Berührungslosigkeit, Schnelligkeit und Robustheit und sind damit besonders für das Fertigungsumfeld geeignet. Die verschiedenen Streulichtmesssysteme reichen von hochsensitiven Laboraufbauten für verschiedenste Wellenlängen über Table-Top-Systeme bis hin zu kompakten Sensoren: