Umfassende Analyse optischer Oberflächen und Komponenten
Am Fraunhofer IOF wurde eine umfassende Expertise und Messtechnikplattform zur Charakterisierung von Oberflächen und Schichtsystemen etabliert. Diese umfasst Systeme und Methoden zur Analyse von Nano- und Mikrostrukturen sowie optischen und funktionalen Eigenschaften. Ein wesentlicher Schwerpunkt liegt dabei auf hochsensitiven Verfahren zur Bestimmung optischer Verluste wie Streulicht und Absorption sowie die Aufklärung von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen.
Dazu kommen sowohl kommerzielle Tools als auch spezielle Eigenentwicklungen zum Einsatz. Je nach Anwendung entwickeln und nutzen wir einerseits hochwertige flexible Analysemethoden, die maximalen Erkenntnisgewinn ermöglichen und erarbeiten andererseits Techniken, die bei Bedarf aber auch wirtschaftlich und praktikabel sein können. So entstehen kundenspezifische Systemlösungen und Untersuchungsprogramme, die die Entwicklung funktionaler Oberflächen, dünner Schichten und Materialien effizient unterstützt.
